Analyse von Dünnschichten
Mit dem neuen Micro-Slurry-Jet-Erosion-(MSE-)Testsystem lassen sich Oberflächen mittels Bestrahlung durch Mikropartikel auf ihre Festigkeit prüfen.
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SONOTEC auf der Maintenance 2014
Zerstörungsfreie Materialprüfung
Das rechtzeitige Erkennen von Abnutzungs- und Korrosionserscheinungen an Lagertanks, Behältern, Rohren und Pipelines sowie Maschinen und Bauteilen schützt vor unangenehmen Überraschungen. Mit seinen Ultraschallmessgeräten der SONOWALL-Baureihe bietet SONOTEC kompakte und leichte Prüfgeräte für die Wanddickenmessung von Bauteilen aus Metall, Glas, Keramik und Kunststoff.
mehr...Korrosionsschutz sicherer mit Null-Offset
Für die Qualitätssicherung beim Korrosionsschutz ist die Beurteilung der Schichtdicke von signifikanter Bedeutung. Eine besondere Herausforderung liegt in der Bewertung von Schichtdicken auf rauen Oberflächen. Abhängig vom Messort kann der falsche Eindruck entstehen, dass die Schutzschicht ausreichend ist, obwohl sie an anderen Stellen desselben Prüfstücks den Anforderungen nicht genügt.
mehr...Winfried Roggendorf ist neuer Geschäftsführer
Winfried Roggendorf heißt der neue Geschäftsführer der ElektroPhysik Dr. Steingroever GmbH & Co. KG. Seit Anfang März steht der Diplomingenieur als alleiniger Geschäftsführer an der Spitze des traditionsreichen Kölner Unternehmens.
mehr...Hochaufgelöste Dickenmessung
FRT bringt mit dem Dünnschichtsensor FTR ein spezielles Modell für die Dickenmessung transparenter dünner Schichten und Schichtsysteme auf den Markt, ein optisches Dünnschichtreflektometer.
mehr...PANalytical führt neue RFA-Analysensoftware ein
PANalytical, der weltweit führende Anbieter von analytischen Röntgensystemen und -software, führt eine neue Software für Röntgenfluoreszenzanalysensysteme (RFA) ein. Das Unternehmen entwickelte Stratos, ein brandneues Softwarepaket sowohl für die Epsilon 3 als auch die Axios Spektrometer.
mehr...Schichtdickenmessgerät LAYERCHECK 750 USB
Schichtdickenmessgerät: Zerstörungsfreie Messungen
mehr...Mit Ultraschall durch die Wand
Die leichten, kompakten Wanddickenmessgeräte von SONOTEC gestatten die präzise und schnelle Prüfung der Wandstärken von Rohren, Behältern und Bauteilen aus den unterschiedlichsten Materialien – und das zerstörungsfrei.
mehr...Spektroskopisches Ellipsometer
Neben anderen Messtechniken für die Schichtcharakterisierung bietet HORIBA Scientific das spektroskopische Ellipsometer UVISEL als High-End-System seit zwei Dekaden in der aktuell vierten Generation an.
mehr...Mobiles RFA-Spektrometer Niton XL3t Air
Schichtdickenmessungen at line
Gleichmäßig optimale Beschichtungsstärken bei gleichzeitiger Begrenzung der Rohstoffkosten lautet die Forderung der Industrie. Dies soll durch verbesserte Kontrollen im Beschichtungsprozess gewährleistet werden.
mehr...Charakterisierung von Schichten
Horiba Scientific bietet unterschiedlichste Produkte für die Schichtmesstechnik an, darunter Ellipsometer, Reflektometer und Interferometer. Als Nachfolger des spektroskopischen Ellipsometers MM-16 wurde nun das neue SmartSE eingeführt, welches, basierend auf derselben Messtechnik zur Charakterisierung von Schichten (Dicke, n, k), zusätzliche Funktionen wie die Visualisierung der Probenoberfläche und der Messposition liefert.
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