AnalyseninstrumenteMesskurve + Bildinfo simultan

Mettler Toledo stellte auf der analytica 2010 in München ein neues System zur DSC-Analyse vor. Mit Hilfe eines Mikroskopieaufsatzes und angeschlossener Software lassen sich simultan DSC-Messkurven wie auch Bildinformationen der gemessenen Probe erhalten und korrelieren.