Neue Software für RasterkraftmikroskopAnalyse-Software für industrielle AFM-Anwender

Mit der neuen Software Tosca™ Analysis haben Anwender jetzt eine Komplettlösung für komplexe Nano-Oberflächen-Analysen für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen, einschließlich der Charakterisierung von Halbleitereigenschaften und der Untersuchung von Polymerketten.