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Laser-Scanning-Mikroskope LEXTEinfacher, präziser, flexibler

Olympus macht den nächsten Schritt in der Entwicklung konfokaler Laser-Scanning-Mikroskope für exakte 3D-Messungen in der Metrologie: Mit dem LEXT OLS3100 für anspruchsvolle Metrologie und dem OLS3000IR für die zerstörungsfreie Beobachtung komplexer Halbleiterkomponenten.

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Laser-Scanning-Mikroskope LEXT: Einfacher, präziser, flexibler
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