Röntgenfluoreszenz-Spektrometer 2023Sie können das Suchergebnis eingrenzen, indem Sie die Checkboxen der Kategorien klicken. Dann werden nur die Unternehmen angezeigt, die die entsprechenden Produkte oder Dienstleistungen im Angebot haben. Durch einen Klick auf den Firmennamen erhalten Sie weiterführende Informationen zu dem Unternehmen. | Allgemeine Informationen | ||||||||||||||
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Anbieter | Modellbezeichnung | Gerätetyp; Technologie | Außenmaße (B x H x T mm) | Gewicht (kg) | Anregung (Röhrenart; Anodenart; Spannung) | Detektor | Auflösungsvermögen (eV) | Atmosphäre in der Probenkammer | Analysierbare Elemente / Elementbereich | Probenart | Nachweisgrenze | Mittlere Analysendauer | Oberflächenanalyse möglich? | Besonderheiten | |
 analyticon instruments gmbh | Lieferant | Niton XL2 plus | mobiles Handgerät, energiedispersiv | 256 x 275 x 100 mm | 1,5 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 45 KV max., 1 - 200 mA (max 2 Watt) | SDD | < 185 eV @MnKa | Luft | Mg…U | universell | > 5 ppm, entspr. Matrix | 1s - 60s | ja, FP-Programm Schichtdicke | Detektorschutz ProGuard, Hot Swap Funktion, IP54 , Microkamera |
| analyticon instruments gmbh | Lieferant | Niton XL3 SDD | mobiles Handgerät, energiedispersiv | 244 x 230 x 95,5 mm | 1,5 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 50 KV max., 90 mA (max 2 Watt) | SDD | < 185 eV @MnKa | Luft | Mg…U | universell | > 5 ppm, entspr. Matrix | 1s - 60s | ja, FP-Programm Schichtdicke oder empirisch | Klappdisplay, Microkamera, Small Spot Kollimation |
| analyticon instruments gmbh | Lieferant | XL5 plus | mobiles Handgerät, energiedispersiv | 243 x 208 x 68 mm | 1,3 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 50 KV max., 1 - 500 mA (max 5 Watt) | Graphene-SDD | ? 150 eV | Luft | Mg…U | universell | > 1 ppm, entspr. Matrix | 1s - 60s | ja, FP-Programm Schichtdicke | 5W-Röntgenröhre, ProGuard-Detektorschutz, Klappdisplay, Hot Swap Funktion, Mikro- und Makrokamera, IP54, Small Spot Kollimation |
 Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XAN Serie | EDX-Tischgeräte mit nach oben öffnender Haube | 403 x 365 x 588 | ca. 45 | (Mikrofokus-)Röhre; W-Anode; max. 50 kV, 1 mA | Si-PIN oder SDD-Detektor jeweils mit Peltierkühlung | ? 135 eV …? 180 eV (fwhm bei Mn-K?), abhängig von Detektor | Luft oder Helium | S (16) bzw. Al (13) bis U (92) | fest, flüssig, pulverförmig und Mehrfachschichtsysteme | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen; Schichtdicken > 5 nm | 10 – 30 s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | EDX-Tischgeräte mit Messrichtung von unten; schnelle, zerstörungsfreie Analyse und Schichtdickenmessung; RoHS; Messfleck variierbar |
| Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD | EDXRF-Tischgerät | 660x835x720 | 140 | Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode, 10kV, 30kV, 50kV, max. Anodenstrom: 1mA | Silizium-Drift-Detektor (SDD) mit Peltierkühlung, 50 mm2 wirksame Detektorfläche | ? 140 eV (fwhm bei Mn-K?) | Luft oder Helium | Aluminium Al (13) bis Uran U (92) – bis zu 24 Elemente gleichzeitig | fest, flüssig, pulverförmig und Mehrfachschichtsysteme | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen; Schichtdicken ? 0,1 ?m | 10 – 30 s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | besonders großer Silizium-Drift-Detektor (50 mm² wirksame Fläche), große Blende (Ø 3 mm), daher höchste Genauigkeit bei kurzer Messzeit. Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen (? 0,1 ?m), Leadframes: Schichtdicke > 2nm, RoHS, WEE, ENEPIG, ENIG |
| Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XDV-? / XDV-µ LD | EDXRF-Tischgerät, mit nach oben öffnender Haube und seitlich geschlitztem Gehäuse X/Y und Z-Achse elektrisch angetrieben und programmierbar Motorisch wechselbare Filter | 660 x 835 x 720 | 135 | Standard: Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode und Berylliumfenster Optional: Mikrofokus-Röhre mit Molybdänanode und Berylliumfenster | Silizium-Drift-Detektor (SDD) mit Peltierkühlung | ? 140 eV (fwhm bei Mn-K?) | Luft oder Helium [XDV-µ] | Bis zu 24 Elemente gleichzeitig, Al (13) bis U (92) [XDV-µ], bzw. S (16) bis U (92) [XDV-µLD] | fest, flüssig und Mehrfachschichtsysteme; große, flache Proben; sehr kleine Messfleckgeometrien | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen | 1-20s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | Wirksame Detektorfläche wahlweise 20 mm² oder 50 mm², Primärfilter 4-fach wechselbar (Ni 10 µm; frei; Al 1000 µm; Al 500 µm), Messabstand fest, ca. 12-14 mm [XDV-µLD], ca. 1–2mm (10µm halofrei), 4-5mm (20 µm halofrei/nicht halofrei) [XDV-µ] |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX QC/QC+ | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 331 x 432 x 376mm | 16kg | 50kV Röntgenröhre mit Silberanode | SiPIN oder SDD | SDD < 135eV | Luft, optional Helium | Na bis Uran | fest, flüssig, pastös | matrixabhängig | Sekunden bis Minuten | Ja | Für rauhe Umgebungen geeignet, kein Lüfter |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX DE und NEX DE VS | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 356 x 351 x 260mm | 27kg | 60kV Röntgenröhre mit Silberanode | SDD | SDD < 135eV | Luft, optional Helium oder Vakuum | Na bis Uran | fest, flüssig, pastös | matrixabhängig | Sekunden bis Minuten | Ja | NEX DE VS mit variabledm Spot, 60kV Anregungsspannung, LIMS Option |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX CG II | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 463 x 492 x 382mm | 66kg | 50kV Endfenster Röntgenröhre mit Pd-Anode | SDD | SDD < 135eV | Luft, optional Helium oder Vakuum | Na bis Uran | fest, flüssig, pastös | matrixabhängig | Sekunden bis Minuten | Ja | 3D-Kartesische Geometrie Röntgenoptik für höchste Empfindlichkeit, LIMS Option |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman B-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 450 x 450 x 600mm | 34kg | 50 kV Mikrofokus-Röntgenröhre mit Wolframanode | SDD | SDD 135eV | Luft | Aluminium bis Uran | fest, flüssig, pastös | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | Sekunden bis Minuten | Ja | optional großer SDD, sehr kleiner Messabstand, motorisierte Kollimatoren, mit programmierbarem XY-Tisch als P-Serie lieferbar |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman L-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 700 x 750 x 750mm | 110kg | 50 kV Mikrofokus-Röntgenröhre mit Wolframanode | SDD, optional großer SDD | SDD 135eV | Luft | Aluminium bis Uran | fest, flüssig, pastös | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | Sekunden bis Minuten | Ja | sehr große Probenkammer H x B x T 280 x 550 x 600 mm, programmierbarer XY-Tisch |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman W-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 990 x 940 x 787mm | 190kg | 50 W Röntgenröhre mit Molybdänanode mit Flex-Beam Kapillaroptik @7.5 FWHM | SDD mit großem Fenster | SDD 135eV | Luft | Aluminium bis Uran | fest | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | Sekunden bis Minuten | Ja | 7,5 µm-Optik mit einem hochauflösenden, großflächigen Silizium-Drift-Detektor, programmierbarer XY-Tisch mit Verfahrweg 300 x 400 x 100 mm, Cr- oder W-Röhre optional, größere Optiken lieferbar |
| EVIDENT Europe GmbH | Hersteller | Vanta Serie | Tragbare RFA-Handgeräte | 83x289x242 mm | 1,7 kg inklusive Akku | Miniröhre (Rh, Ag, W), 5-50 kV | Si-PIN, SDD (Graphene) | <140 eV | Luft | Mg-U | Metalle, Pulver, Gläser und Flüssigkeiten | ab 1 ppm in leichter Matrix, abhängig von Element und Probenart | 10 - 30 Sekunden, abhängig von Element und Probenart | ja, abhängig von Element , Probenart und Anwendung | Robust, IP54, IP55, drop-tested (MIL-G810), automatische Driftkorrektur, Detektorshutter, WLAN, Bluetooth, Cloud-Connection |
| Rigaku Europe SE | Hersteller | Supermini200 | wellenlängendispersives (WD) Röntgenfluoreszenzspektrometer (WD RFA) | 580 X 670 x 680 | 100 | Pd Röhre, 200W, max 50kV, max 4mA | P10 Proportionalzähler + Szintilationszähler | WD System - n/a | Vakuum oder Helium | Sauerstoff (O) - Uran (U) | fest, flüssig, pulverförmig | Typischerweise im ppm Bereich in Abhängigkeit von der Probe, der Probenpräparation und der Messzeit | typischerweise ein paar Minuten, | Ja, | Kompaktes Tischgerät mit herausragenden Empfindlichkeiten und spektraler Auflösung, die sonst nur mit einem Großgerät möglich sind. Gleichzeitig niedrige Betriebskosten, eine einfache Bedienung, auch für nicht RFA Spezialisten. |
| Rigaku Europe SE | Hersteller | ZSX Prmius IV | wellenlängendispersives (WD) Röntgenfluoreszenzspektrometer (WD RFA) | 1310 X 1465 X 890 | 620 | Rh, 3 oder 4kW, max. 60kV, max 150mA | P10 Proportionalzähler + Szintilationszähler | WD System - n/a | Vakuum oder Helium | Be bis Cm | fest, flüssig, pulverförmig | Typischerweise im ppm Bereich in Abhängigkeit von der Probe, der Probenpräparation und der Messzeit | typischerweise ein paar Minuten | ja | Universelles Mehrzweckspektrometer für F&E und QC Anwendungen mit Röhre oben wodurch Röhren eingesetzt werden können, die deutlich bessere Ergebnisse für die leichten Elemente ab Be liefern. Sehr einfache Bedienung und niedrige Betriebskosten. |
| Rigaku Europe SE | Hersteller | ZSX Primus IVi | wellenlängendispersives (WD) Röntgenfluoreszenzspektrometer (WD RFA) | 840 x 1250 x 980 | 500 | Rh, 3 oder 4kW, max. 60kV, max 150mA | P10 Proportionalzähler + Szintilationszähler | WD System - n/a | Vakuum oder Helium | Be bis Cm | fest, flüssig, pulverförmig | Typischerweise im ppm Bereich in Abhängigkeit von der Probe, der Probenpräparation und der Messzeit | typischerweise ein paar Minuten | ja | Sehr einfach zu bedienendes Röntgenspektrometer für F&E und QC Anwendungen mit hohem Probendurchsatz und niedrigen Betriebskosten. |
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