Materialanalyse dünnster BeschichtungenNicht nur Schichtdickenmessgerät
Oxford Instruments führt ein neues Messgerät für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse ein, das Maxxi 6. Dieses neue Modell im Mid-Range- und High-End-Bereich misst dünnste Beschichtungen im Nanometerbereich sowie die Elementzusammensetzung im Spurenbereich.
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as neue Messgerät kann feste oder flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U analysieren. In Kombination mit einem hochauflösenden SDD können dünnste Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und die Elementzusammensetzung im Spurenbereich gemessen werden.