Röntgenpulverdiffraktometer

Für Prozesskontrolle und Lehre

PANalytical hat mit dem Aeris ein neues Benchtop-Röntgenpulverdiffraktometer auf den Markt gebracht. Die einfache Bedienung und der Anwenderkomfort zeichnen dieses Diffraktometer aus.

Das neue Aeris-Röntgenpulverdiffraktometer für Prozesskontrolle und Lehre.

Das neue Aeris nutzt viele Komponenten, die bereits für die Empyrean-Hochleistungs-XRD-Plattform entwickelt wurden. Daher sind die Datenqualität und die Analysengeschwindigkeit auf gleich hohem Niveau wie bei herkömmlichen Röntgendiffraktometern mit Röhrenleistungen >1 kW.

Ein besonderes Merkmal von Aeris ist auch die werksseitige Ausrüstung mit allen Schnittstellen für die Einbindung in eine Laborautomatisierung. Daher eignet sich Aeris insbesondere für die industrielle Prozesskontrolle.

Kühlwasser oder Druckluft sind für den Betrieb des neuen Aeris-XRD-Systems nicht erforderlich. Zudem kommt es mit einem herkömmlichen 230-V-Anschluss aus.

Das Gerät ist in verschiedenen Editionen erhältlich, die je nach Anwendung und Bedarf unterschiedlich ausgestattet sind. Die Aeris Research-Edition z.B. ist für den Einsatz an Universitäten und Forschungseinrichtungen konzipiert. Diese Edition kann mittels des 2D-Detektors besonders gut für die Lehre eingesetzt werden.

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