High Definition FE-REMAnalytik im Nanobereich

Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich.