High Definition FE-REM

Analytik im Nanobereich

Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich. Das System bietet Verbesserungen in der Elektronik, eine große Auswahl an Detektoren und ein modifiziertes Kam-merdesign für Auflösungen von bis zu 1 nm. Es ist als Hochvakuum-System und mit variablem Druck verfügbar. Ein fünfachsig euzentrischer Tisch erleichtert die Probennavigation selbst bei großen Proben durch parallele wie auch schräge Bewegungen. Das SIGMA HD bietet einen Informationsgewinn in der Analytik durch ein Kammerdesign, das den Anschluss von zwei diametral gegenüberliegenden EDS-Detektoren erlaubt. Auch bei geringen Sondenströmen für die Untersuchung empfindlicher Proben können maximale Informationen gewonnen und hohe Röntgen-Zählraten bewahrt werden. Der geometrische Aufbau der Kammer verhindert Schatten-Effekte durch Röntgenstrahlen.

Der Produktmanager für die SIGMA-Serie, Dr. Ben Tordoff: "Zahlreiche Kunden haben uns mitgeteilt, dass sie eine Kombination aus analytischer Flexibilität und optimierter Bildaufnahme benötigen. SIGMA HD ist eine wichtige Ergänzung des Portfolios, die dem Kunden exakt diese Vorteile bietet."

Mehr Infos finden Sie unter http://bit.ly/O0PG1u.

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