MikroskopieNeue Berechnungen verbessern Auflösung und Anwendung der AFM-IR-Mikroskopie
Ein neues Modell der TU Wien ermöglicht es, das Auflösungsvermögen der Rasterkraftmikroskopie-Infrarotspektroskopie (AFM-IR) präzise zu berechnen.
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Prof. Georg Ramer vom Institut für Chemische Technologien und Analytik der TU Wien © TU Wien