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MikroskopieNeue Berechnungen verbessern Auflösung und Anwendung der AFM-IR-Mikroskopie

Ein neues Modell der TU Wien ermöglicht es, das Auflösungsvermögen der Rasterkraftmikroskopie-Infrarotspektroskopie (AFM-IR) präzise zu berechnen.

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Georg Ramer Institut für Chemische Technologien und Analytik der TU Wien
Prof. Georg Ramer vom Institut für Chemische Technologien und Analytik der TU Wien © TU Wien
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