Oberflächeninspektionssystem EyeSIS

Für die Inspektion von Oberfächen

Das neue Surface Inspection System EyeSIS von EVT bietet dem Anwender jetzt ein kompaktes Oberflächeninspektionssystem mit integrierter Software. Das System eignet sich besonders für die Oberflächeninspektion von Aluminium, Plastik, Papier, Glas und weiteren Materialien und kommt überall dort zum Einsatz, wo ein hochwertiges Erscheinungsbild der Oberfläche gefordert ist.

Das Ready-to-use-System erkennt problemlos Kratzer, Randausbrüche, Dellen, Rost, Einschlüsse sowie Verunreinigungen auf den zu prüfenden Objekten. Durch die Aneinanderreihung mehrerer Systeme hat der Anwender die Möglichkeit, die zu prüfenden Objekte mit unterschiedlichen Methoden auszuwerten. So wird die Prüfsicherheit erhöht und Pseudoausschuss reduziert.

Anzeige
Anzeige

Das könnte Sie auch interessieren

Anzeige
Anzeige

Effizienz und Leistung

Die neue Pioneer mit vielen Funktionen zum intelligenten Betrieb in Ihrem Labor. Mit antistatischem Stab zur Erdung. Weitere Informationen über die Waagen Pioneer PX

 

mehr...
Anzeige

Imaging

Segmentierung korrelativer Mikroskopiedaten

Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.  

mehr...
Anzeige

Highlight der Woche

Quadrupol-Massenspektrometer PrismaPro®
Mit dem PrismaPro bietet Pfeiffer Vacuum ein Quadrupol-Massenspektrometer für die qualitative und quantitative Gasanalyse sowie zur Lecksuche an.

Zum Highlight der Woche...

Newsletter bestellen

Immer auf dem Laufenden mit dem LABO Newsletter

Aktuelle Unternehmensnachrichten, Produktnews und Innovationen kostenfrei in Ihrer Mailbox.

AGB und Datenschutz gelesen und bestätigt.
Zur Startseite