RFA-Geräte PHOENIX II/XEPOSPassivierungsschichten überwachen

Als einer der führenden Hersteller im Bereich Röntgenfluoreszenzanalytik (RFA) hat SPECTRO für das SPECTRO PHOENIX II eine neue Applikation für At-line-Analysen in der Metallindustrie entwickelt. Mit dem robusten RFA-Gerät lassen sich Beschichtungen aus Silan, Phosphor, Zirkon, Titan, Vanadium und Chrom messen.