Röntgenmikroskop XGT-7200/5200

Mikro-XRF-Analytik mit SDD

Die bewährten Röntgenmikroskope der XGT-Reihe von Horiba Scientific sind jetzt wahlweise mit Silicium-Drift-Detektoren (SDD) ausgestattet. Die Vorteile mit diesem Detektor sind vielfältig:

Das XGT-7200 macht die Elementaranalytik mit bis zu 10 µm Ortsauflösung zur Routineaufgabe.
  • Höhere Energieauflösung.
  • Bis zu 10-fach höhere Zählraten.
  • Kein flüssiger Stickstoff zur Kühlung mehr nötig.

Insgesamt ergibt sich daraus eine wesentlich verbesserte Sensitivität insbesondere auch bei leichten Elementen. Man erzielt damit schnellere Punktmessungen oder hoch aufgelöste Mappings (bis zu 10 µm Auflösung möglich) der Elemente Natrium bis Uran. Quantifizierung und Schichtdickenmessung werden genauer. Verzichten muss man dabei auf nichts: Vakuum ist wahlweise zuschaltbar, so dass auch wasserhaltige (biologische) Proben untersucht werden können. Ein zusätzlicher Transmissionsdetektor erzeugt Bilder mit „Durchblick“. Die ohnehin schon einfache Bedienung wird durch den wartungsfreien, peltiergekühlten Detektor nochmals verbessert.

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