Röntgenmikroskop XGT-7200/5200
Mikro-XRF-Analytik mit SDD
Die bewährten Röntgenmikroskope der XGT-Reihe von Horiba Scientific sind jetzt wahlweise mit Silicium-Drift-Detektoren (SDD) ausgestattet. Die Vorteile mit diesem Detektor sind vielfältig:
- Höhere Energieauflösung.
- Bis zu 10-fach höhere Zählraten.
- Kein flüssiger Stickstoff zur Kühlung mehr nötig.
Insgesamt ergibt sich daraus eine wesentlich verbesserte Sensitivität insbesondere auch bei leichten Elementen. Man erzielt damit schnellere Punktmessungen oder hoch aufgelöste Mappings (bis zu 10 µm Auflösung möglich) der Elemente Natrium bis Uran. Quantifizierung und Schichtdickenmessung werden genauer. Verzichten muss man dabei auf nichts: Vakuum ist wahlweise zuschaltbar, so dass auch wasserhaltige (biologische) Proben untersucht werden können. Ein zusätzlicher Transmissionsdetektor erzeugt Bilder mit „Durchblick“. Die ohnehin schon einfache Bedienung wird durch den wartungsfreien, peltiergekühlten Detektor nochmals verbessert.
Das könnte Sie auch interessieren
Röntgenmikroskopie mit Rekordauflösung
Bei DESY entwickelte Speziallinsen ermöglichen erstmals die Röntgenmikroskopie mit einer Rekordauflösung im unteren Nanometerbereich.
mehr...Materialforschung und Werkstofftechnik
Schnell und zerstörungsfrei mit Röntgentomographie
Eine neuartige Röntgentomographie-Anlage ermöglicht es jetzt, Materialien in Nanodimensionen genauer als bisher abzubilden und dabei auch dynamische Prozesse wie etwa die Verformung von Metallen zu analysieren.
mehr...3D-Röntgenmikroskope für hohen Durchsatz
Die neue FPX-Erweiterung für 3D-Röntgenmikroskope der Serie Zeiss Xradia Versa 500 ermöglicht Scans von großen Proben mit hoher Bildqualität. Mit der FPX-Erweiterung können jetzt große Proben zwei- bis fünfmal schneller untersucht werden.
mehr...Analytik Jena Days 2019 – Jetzt anmelden
Top-Speaker, Anwenderberichte, Technologietrends und Networking mit Experten - für die Bereiche Life Science und analytische Chemie. Melden Sie sich jetzt zur großen Fachtagung an.
mehr...Noch schneller im Nanobereich
Das Unternehmen ZEISS hat jetzt ein neues Röntgenmikroskop (XRM) im Programm, das die dreidimensionale Bildaufnahme im Nanobereich um das Zehnfache beschleunigt. Das Mikroskopsystem wurde auf der Microscopy & Microanalysis in Indianapolis am 5....
mehr...Achema 2018 - Halle A28, Stand 11.0
Spektroskopisches Ellipsometer: Schnelle Messtechnik und gesteigerte Genauigkeit
Horiba Scientific hat die Markteinführung der neuesten Generation der modularen Modellreihe Uvisel angekündigt.
mehr...Zwei-in-Eins-Fluoreszenz- und Absorptionsspektrometer bietet viel Leistung
Horiba Scientific präsentiert mit Duetta ein neues Fluoreszenz-/UV-VIS-Spektrometer. Darin hat das Unternehmen Fluoreszenz- und Absorptionsspektroskopie in einem Gerät kombiniert.
mehr...Analyse-Tool zum Finden, Klassifizieren und Identifizieren von Mikropartikeln
Witec bringt mit dem "ParticleScout" ein Partikelanalyse-Tool für seine alpha300 Mikroskop-Reihe auf den Markt. Finden, Klassifizieren, Quantifizieren und Identifizieren von Mikropartikeln sollen damit vereinfacht werden.
mehr...Mit IRMS Lebensmittelfälschungen nachweisen
In der klassischen IRMS werden die „Elemente des Lebens“ gemessen. Ihre Analyse gibt nicht nur über die Authentizität, sondern auch über die Herkunft eines Lebensmittels Auskunft.
mehr...Der organischen Solarzelle ein Stück näher
Spektroskopie an einzelnen Molekülen
Eine an der TUM entwickelte, neue Methode liefert präzise Aussagen über die Wechselwirkung genau eines Moleküls mit seiner Umgebung. Damit lassen sich beispielsweise schneller effiziente Moleküle für zukünftige Technologien in der Photovoltaik...
mehr...