Röntgenfluoreszenz-SpektrometerSie können das Suchergebnis eingrenzen, indem Sie die Checkboxen der Kategorien klicken. Dann werden nur die Unternehmen angezeigt, die die entsprechenden Produkte oder Dienstleistungen im Angebot haben. Durch einen Klick auf den Firmennamen erhalten Sie weiterführende Informationen zu dem Unternehmen. | Allgemeine Informationen | ||||||||||||||
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Anbieter | Modellbezeichnung | Gerätetyp; Technologie | Außenmaße (B x H x T mm) | Gewicht (kg) | Anregung (Röhrenart; Anodenart; Spannung) | Detektor | Auflösungsvermögen (eV) | Atmosphäre in der Probenkammer | Analysierbare Elemente / Elementbereich | Probenart | Nachweisgrenze | Mittlere Analysendauer | Oberflächenanalyse möglich? | Besonderheiten | |
 analyticon instruments gmbh | Lieferant | Niton XL2 plus | mobiles RFA-Spektrometer, energiedispersiv | 256 x 275 x 100 mm | 1,5 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 45 KV max., 1-200 mA (max.2 Watt) | SDD | < 185 eV @MnKa | Luft - Gerät benötigt keine Probenkammer. Stattdessen Atmosphäre der Messstrecke Probe zu Detektor angegeben. | Mg - U | universell | > 5 ppm, entsprechend Matrix | 1 s - 60 s | ja, FP-Programm Schichtdicke | Detektorschutz ProGuard, Hot Swap Funktion, IP54, Microkamera |
| analyticon instruments gmbh | Lieferant | Niton XL3 air | mobiles RFA-Spektrometer, energiedispersiv | 244 x 230 x 95,5 mm | 1,5 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 50 KV max. 90 mA (max. 2 Watt) | SDD | < 185 eV @MnKa | Luft - Gerät benötigt keine Probenkammer. Stattdessen Atmosphäre der Messstrecke Probe zu Detektor angegeben. | Mg - U | universell | > 5 ppm, entsprechend Matrix | 1 s - 60 s | ja, FP-Programm Schichtdicke oder empirisch | Klappdisplay, Microkamera, Small Spot Kollimation |
| analyticon instruments gmbh | Lieferant | Niton XL5 | mobiles RFA-Spektrometer, energiedispersiv | 243 x 208 x 68 mm | 1,3 kg | Röntgenröhre, Ag-Anode, 50 KV max., 1-500 mA (max. 5 Watt) | SDD | 150 eV – 180 eV @MnKa | Luft - Gerät benötigt keine Probenkammer. Stattdessen Atmosphäre der Messstrecke Probe zu Detektor angegeben. | Mg - U | universell | > 5 ppm, entsprechend Matrix | 1 s - 60 s | ja, FP-Programm Schichtdicke | 5W-Röntgenröhre, Klappdisplay, Hot Swap Funktion, Mikro- und Makrokamera, IP54, Small Spot Kollimation |
 Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XAN Serie | EDX-Tischgeräte mit nach oben öffnender Haube | 403 x 365 x 588 | ca. 45 | (Mikrofokus-)Röhre; W-Anode; max. 50 kV, 1 mA | Si-PIN oder SDD-Detektor jeweils mit Peltierkühlung | ≤ 135 eV …≤ 180 eV (fwhm bei Mn-Kα), abhängig von Detektor | Luft oder Helium | S (16) bzw. Al (13) bis U (92) | fest, flüssig, pulverförmig und Mehrfachschichtsysteme | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen; Schichtdicken > 5 nm | 10 – 30 s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | EDX-Tischgeräte mit Messrichtung von unten; schnelle, zerstörungsfreie Analyse und Schichtdickenmessung; RoHS; Messfleck variierbar |
| Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD | EDX-Tischgerät | 660 x 720 x 835 | ca. 140 | Mikrofokus-Röhre; W-Anode; max. 50 kV, 1 mA | SDD-Detektor mit Peltierkühlung | ≤ 140 eV (fwhm bei Mn-Kα) | Luft oder Helium | Al (13) bis U (92) | fest, flüssig, pulverförmig und Mehrfachschichtsysteme | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen; Schichtdicken > 3 nm | 10 – 30 s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | EDX-Tischgerät mit programmierbarem XY-Tisch; automatisierte Messung auch sehr dünner Schichten; Spurenanalyse; RoHS; Messfleck variierbar |
| Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik | Hersteller | FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ | EDX-Tischgerät mit seitlich offenem Gehäuse | 660 x 720 x 835 | ca. 135 | Mikrofokus-Röhre; W- oder Mo-Anode; max. 50 kV, 1 mA | SDD-Detektor mit Peltierkühlung | ≤ 140 eV (fwhm bei Mn-Kα) | Luft | Al (13) bis U (92) | fest, flüssig und Mehrfachschichtsysteme; große, flache Proben; sehr kleine Messfleckgeometrien | Nachweisgrenze abhängig von Element, Material und Messbedingungen; Schichtdicken > 3 nm | 1 – 10 s | ja, beinhaltet: FP-Datenauswertung, standardfreie Messungen, Kalibrierung und Rückführbarkeit | EDX-Tischgerät mit Polykapillar-Röntgenoptik; Messungen auf kleinsten Bauteilen und Strukturen; Wafer-Anwendungen; sehr präziser, programmierbarer XY-Tisch für automatisierte Messungen; sehr gutes Videobild mit mehrstufigem Zoom |
 HORIBA Jobin Yvon GmbH | Hersteller | MESA 50 | Benchtop, EDXRF | 208 x 294 x 205 | 12 | 15, 50 kV (Pd; 0.004-0.2 mA) | SDD | 140 | Luft | 13Al-95Am | Fest/Pulver/flüssig | ab 0,1 ppm | 30-60 s | Probenabhängig | Spotgröße wählbar zwischen 1,2; 3; 7 mm, Schichtdickenanalysemodul in der Software |
| HORIBA Jobin Yvon GmbH | Hersteller | XGT 9000 | Benchtop, Mikro-EDXRF | 680 x 860 x 760 | 200 | 15, 30, 50 kV (Rh; 0.02-1 mA) | SDD, NaI(Tl) | 140 | Vakuum, partielles Vakuum, He-Atmosphäre, Luft | 6C-95Am | Fest/Pulver/flüssig | ab 0,1 ppm | 20-60 s | Ja | Transmissionsröntgenaufnahmen, mehrere Kapillaren im Gerät konfigurierbar, Mono- und Polykapillaren, Durchmesser 10 - 400 µm, Kollimator mit 1,2 mm, koaxiale Ausrichtung des Videobildes und der Röntgenanregung |
| HORIBA Jobin Yvon GmbH | Hersteller | XGT 9000 SL | Benchtop, Mikro-EDXRF | 1090 x 1340 x 1837 | 550 | 15, 30, 50 kV (Rh; 0.02-1 mA) | SDD, NaI(Tl) | 140 | partielles Vakuum, He-Atmosphäre, Luft | 6C-95Am | Fest/Pulver/flüssig | ab 0,1 ppm | 20-60 s | Ja | Große Probenkammer mind. 1000x500x500, auf Anfrage auch individuell, Transmissionsröntgenaufnahmen, mehrere Kapillaren im Gerät konfigurierbar, Mono- und Polykapillaren, Durchmesser 10 - 400 µm, Kollimator mit 1,2 mm, koaxiale Ausrichtung des Videobildes |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX QC | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 331 x 232 (377 mit Touchscreen) x 432 | 16 | 50 kV Röntgenröhre mit Silberanode | SiPIN, optional SDD | hoch auflösend | Luft, Helium | Natrium bis Uran | feste, flüssige, pastöse Proben, Pulver | ppm bis % | wenige Sekunden bis Minuten | ja | Bedienung über Touchscreen, integrierter Rechner, intergrierter Thermodrucker. Optional separater Rechner, Fundamentalparameterkalibrierung |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX DE (Hersteller: Rigaku) | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 356 x 260 x 351 | 27 | 60 kV Röntgenröhre mit Silberanode | SDD | hoch auflösend | Luft, Helium, Vakuum | Natrium bis Uran | feste, flüssige, pastöse Proben, Pulver | ppm bis % | wenige Sekunden bis Minuten | ja | Große Probenkammer, verschiedene Autosampler, RPF-SQX Bibliotheken, variabler Spot, FP-Kalibrierung, EZ-Analyseinterface für Routineoperationen |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Rigaku NEX CG | Tischgerät, energiedispersive Röntgenfluoreszenz | 600 x 400 x 600 | 80 | 50 kV Röntgenröhre mit Palladiumanode, 50 W, polarisierte Anregung über Sekundärtargets | SDD | hoch auflösend | Luft, Helium, Vakuum | Natrium bis Uran | feste, flüssige, pastöse Proben, Pulver | ppm bis % | wenige Sekunden bis Minuten | ja | Niedrige Nachweisgrenzen durch polarisierte Anregung, FP-Software, verschiedene Probenwechsler, große Probenkammer |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman B-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 450 x 450 x 600 | 34 | 50 kV Mikrofokus-Röntgenröhre mit Wolframanode | SiPIN | 190 eV oder besser | Luft | Aluminium bis Uran | feste und flüssige Proben | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | wenige Sekunden bis Minuten | ja | optional SDD oder großer SDD, sehr kleiner Messabstand, motorisierte Kollimatoren, mit programmierbarem XY-Tisch als P-Serie lieferbar |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman L-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 700 x 750 x 750 | 110 | 50 kV Mikrofokus-Röntgenröhre mit Wolframanode | SiPIN, optional SDD oder großer SDD | SiPIN 190eV oder besser | Luft | Aluminium bis Uran | feste und flüssige Proben | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | wenige Sekunden bis Minuten | ja | sehr große Probenkammer H x B x T 280 x 550 x 600 mm, programmierbarer XY-Tisch |
| DEPraTechnik GmbH & CO. KG | Lieferant | Bowman W-Serie | Röntgenfluoreszenz Schichtdicken- und Elementanalysegerät, Top-Down-Messkonfiguration | 990 x 940 x 787 | 190 | 50 W Röntgenröhre mit Molybdänanode mit Flex-Beam Kapillaroptik @7.5 FWHM | SDD mit großem Fenster | 135 eV oder besser | Luft | Aluminium bis Uran | feste Proben | Nanometer bis Mikrometer, Gewichtsprozent | Sekunden | ja | 7,5 µm-Optik mit einem hochauflösenden, großflächigen Silizium-Drift-Detektor, programmierbarer XY-Tisch mit Verfahrweg 300 x 400 x 100 mm, Cr- oder W-Röhre optional, größere Optiken lieferbar |
| JEOL (Germany) GmbH | Hersteller | JXA-iHP200F/JXA-iSP100 | EPMA - Electron Probe Micro Analyzer (Elektronenstrahl-Mikrosonde) | Minimale Zimmermaße: 4000 x 3500 x 2200 | stationäres Gerät, unzutreffend | Probeanregung mit Elektronenstrahl, Spannung 1 - 30 kV, Strom bis zu 10µA | WDS, EDS | WDS Auflösung 8eV (FeKa, LIF), EDS Auflösung 129 eV auf MnKa | Vakuum | Be - U | Feste polierte Proben bis zu 90 x 90 x 50 mm | 100 ppm | 3 Minuten | Ja | Mögliche räumliche Auflösung ist besser als 1 µm |
| JEOL (Germany) GmbH | Hersteller | SXES SS-94000 | SXES - Soft X-Ray Emission Spectrometer (Soft X-Ray Emissions-Spektrometer) | 168 x 348 x 683 mm | 25 kg | Probenanregung mit Elektronenstrahl, Detektor für REM oder EPMA | CCD | 0.3 eV auf AlL | Vakuum | Li - U | Feste polierte Proben bis zu 90 x 90 x 50 mm | 100 ppm | 5 Minuten | Ja | Mögliche räumliche Auflösung ist besser als 1 µm |
| JEOL (Germany) GmbH | Hersteller | JSX-1000S ElementEye | EDS XRF - Energy-dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (Röntgenfluoreszenz-Spektrometer) | 600 x 560 x 430 mm | 64 kg | Rh Röntgenröhre, 5 - 50 kV, 1 mA | Silicon Drift Detector - SDD (Silizium-Drift-Detektor) | <140 eV auf MnK | Luft und Vakuum | C - U | feste oder flüssige Proben, Kollimator 0.9 - 9 mm | < 10 ppm | 3 Minuten | Ja | Dünnschichtanalyse, automatischer Probenwechsler |
| Olympus Europa SE & Co. KG | Hersteller | VANTA Serie | XRF Analysator | 8,3 × 28,9 × 24,2 cm | ab 1,54 kg | 2-4 Watt-Röntgenröhre mit anwendungsoptimierter Anode aus Rhodium (Rh), Silber (Ag) oder Wolfram (W); 8 – 50 kV | Siliziumdriftdetektor (SDD), Silizium-PIN-Detektor | 139 eV | 1 bar | Magnesium (Mg) - Uran (U) | Flüssigkeiten & Festkörper: Metalle, Gesteine und Bodenproben, Dünne Schichten, Folien, Polymere | ab 1 ppm | Metalle: 10 Sekunden, Bodenproben: 30-60 Sekunden, RoHs: 30 Sekunden | ja | Wiederholgenauigkeit durch Axon Technologie, Konfigurationsmöglichkeiten und kundenspezfische Kalibrierung, Verbindung über Bluetooth, Wlan und mit Olympus Cloud, Übersichtskamera mit Barcodeleser, moderne PC und Handy Apps |
| Shimadzu Deutschland GmbH | Hersteller | EDX-7000P | energiedispersives Tischgerät mit Bauartzulassung | 460 x 360 x 590 | 45 | Seitenfenster; Rhodium; max. 50 kV; max. 1 mA | SDD | NO | Luft, optional Helium oder Vakuum | Na bis U | Pulver, Pasten, Flüssigkeiten, Festkörper | sub-ppm - % | je nach Applikation, z.B. 30 s | ja, Kollimator und Kamera erlauben Ausrichtung der Probe für Messpunktauswahl | NO |
| Shimadzu Deutschland GmbH | Hersteller | EDX-8000P | energiedispersives Tischgerät mit Bauartzulassung | 460 x 360 x 590 | 45 | Seitenfenster; Rhodium; max. 50 kV; max. 1 mA | SDD | NO | Luft, optional Vakuum | C bis U | Pulver, Pasten, Flüssigkeiten, Festkörper | sub-ppm - % | je nach Applikation, z.B. 30 s | ja, Kollimator und Kamera erlauben Ausrichtung der Probe für Messpunktauswahl | NO |
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