NanoTest-System

Nano-Impakt-Untersuchungen an Oberflächen

Viele Materialien zeigen unterschiedliche Eigenschaften bei hohen oder niedrigen Verformungsgeschwindigkeiten. Das NanoTest-System von MicroMaterials verfügt neben der Nanoindentation-Messung über die Möglichkeit ultraschnelle Impakt-Experimente durchzuführen, um die Materialeigenschaften bei hohen Verformungsgeschwindigkeiten, weit höher als bei anderen Systemen, zu untersuchen. Ermöglicht wird dies durch die Pendelgeometrie. Kontrollierte Impakts mit hoher Energie werden innerhalb von Sekundenbruchteilen aufgeprägt. So lassen sich z.B. DLC-Schichten bezüglich ihrer Schlagwiderstandsfähigkeit untersuchen. Ein Schichtversagen, etwa aufgrund von Grenzflächenversagen (Delamination), internem Stress oder dem spröden Charakter des Materials, lässt sich somit innerhalb kurzer Zeit feststellen. Material- und Probeneigenschaften können damit deutlich schneller erkannt werden als im realen Einsatz des Produkts.

Anzeige
Anzeige

Das könnte Sie auch interessieren

Anzeige

Cryostation

Ultrakalte optische Messungen

Mit der Cryostation bietet L.O.T.-Oriel eine Lösung für kryogene Messungen im Temperaturbereich von 3…350 K an. Die Temperaturregelung – Kühlen, Erwärmen und natürlich auch die Stabilisierung – erfolgt automatisch über den PC.

mehr...
Anzeige

Effizienz und Leistung

Die neue Pioneer mit vielen Funktionen zum intelligenten Betrieb in Ihrem Labor. Mit antistatischem Stab zur Erdung. Weitere Informationen über die Waagen Pioneer PX

 

mehr...
Anzeige

Raman-Imaging

Mit aktiver Fokus-Stabilisierung

Mit neuen Raman-Imaging-Optionen bietet Witec seine aktuelle Software Suite Five an. Neben verbesserten und neuen Funktionen zur Aufnahme und Auswertung der Daten beinhaltet Suite Five jetzt eine Steuerung für die aktive Fokus-Stabilisierung, die...

mehr...

Imaging

Segmentierung korrelativer Mikroskopiedaten

Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.  

mehr...