PPMS-Messsystem

Jetzt auch mit AFM-Einsatz

Ab sofort bietet LOT für das bekannte Physical Property Measurement System (PPMS) von Quantum Design einen SPM-Einsatz an. Bei dem PPMS handelt es sich um eine Messplattform mit variabler Probentemperatur und variablem Magnetfeld. Die Temperatur reicht von kryogenen 1,9…400 K und der Magnet kann ein Feld von bis zu 9, 14 oder 16 T erzeugen.

Der Probenraum hat einen Durchmesser von etwa 25 mm – nicht viel, aber genug, um darin einen Mikroskopieeinsatz unterzubringen. Attocube – Hersteller des PPMS-SPM Einsatzes – verfügt nicht nur über langjährige Erfahrung mit Raster-Sonden-Mikroskopen, sondern auch über deren Betrieb bei kryogenen Bedingungen.

Als Mikroskopie-Modi sind Rasterkraft- (AFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM) möglich sowie der Einsatz als Konfokalmikroskop (CFM). Das modulare Design erlaubt einen schnellen Tausch der Mikroskopieköpfe und eine einfache Bedienung.

Der SPM-Einsatz kann bei bestehenden PPMS-Systemen nachgerüstet werden. Selbstverständlich kann es auch bei Investitionen zusammen mit einem neuen PPMS erworben werden.

Damit werden die „ab Werk“ verfügbaren Messoptionen für das PPMS um eine sehr interessante Option erweitert. PPMS-Anwender können neben den bisherigen Messungen von physikalischen „Bulk“-Eigenschaften (Transporteigenschaften, Wärmekapazität, magnetisches Moment) nun auch Abbildungen von Oberflächen und deren Eigenschaften (z.B. Magnetismus, Ladung usw.) erhalten.

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