Digitaler Profilprojektor
Bauteileprüfung
EyeProfile ermittelt sämtliche in der Messkette abgelegten Maße, berechnet diese und zeigt im Abweichungsfall jeden Fehler an. Durch die Ankopplung an Datenbanken und Tabellenkalkulationen oder optional an ein SPC-System (QDas) werden die gemessenen Werte automatisch protokolliert.
Jede erstellte Messkette kann einem Webinterface zugeordnet werden, so dass der Anwender die notwendigen Einstellungen und Mess-Prüfergebnisse im Überblick hat. Die Software ist Inline-fähig, d.h. sollte sich eine Messkette bewährt haben oder soll eine 100-%-Prüfung realisiert werden, kann diese direkt in die Produktion integriert werden. Auch schnelle Produktionen mit 80 Teilen pro Sekunde stellen kein Problem dar.
EyeProfile ist in verschiedenen Messfeldern und Genauigkeiten verfügbar, beginnend bei 70 x 60 mm und einer Genauigkeit von 2 µm als Standard. Es ist aber auch möglich kleinere oder größere Prüffelder zu bekommen mit höheren oder kleineren Genauigkeiten.
Weitere Infos unter http://bit.ly/OZ580B.
Das könnte Sie auch interessieren
Digitaler Profilprojektor: Bauteileprüfung
EyeProfile ermittelt sämtliche in der Messkette abgelegten Maße, berechnet diese und zeigt im Abweichungsfall jeden Fehler an. Durch die Ankopplung an Datenbanken und Tabellenkalkulationen oder optional an ein SPC-System (QDas) werden die gemessenen...
mehr...Glass Wafer Inspection System
EVT hat das Glass Wafer Inspection System(GWI) System speziell entwickelt, um Fehler auf Wafern in einem frühen Stadium in der Produktion zu erkennen.
mehr...EVT zeigt Köpfchen und präsentiert die Zweiköpfige
EVT entwickelte eine intelligente Stereokamera mit zwei Sensorköpfen. Die EyeSpector 810D (dual head) basiert auf dem erfolgreichen Modell der ES810 und kombiniert eine leistungsfähige Kamera mit der bewährten EyeVision Bildverarbeitungssoftware.
mehr...Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung
Das Praxis-Seminar "Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung" am Fraunhofer IOSB in Karlsruhe vermittelt einen Überblick über den aktuellen Stand der Technologie und gibt Aufschluss zu Anwendungsmöglichkeiten für die...
mehr...Analytica 2018 – Halle A2, Stand 130
Tensidwirkung und Tensidkonzentration optimieren
Sita Messtechnik präsentiert auf der Analytica u.a. die neueste Generation der Labormessgeräte Sita science line t100 und Sita FoamTester zum Messen der Benetzungseigenschaften und dem Schaumvermögen von Tensiden.
mehr...Nanostrukturen aus bisher unmöglichem Material
Wie kombiniert man verschiedene Elemente in einem Kristall? An der TU Wien wurde nun eine Methode entwickelt, bisher unerreichbar hohe Anteile von Fremdatomen in Kristalle einzubauen.
mehr...Highlight der Woche
Starten Sie durch in 2019!
Besuchen Sie die T5 JobMesse am 27. März in Stuttgart und treffen Sie auf attraktive Arbeitgeber.
Zum Highlight der Woche...LABO Ausstellerporträts
Am 21. Mai 2019 startet in Hannover die Labvolution. Die LABO-April-Ausgabe mit dem großen Messeschwerpunkt erscheint am 26. April 2019 und liegt auch auf der Messe aus.
Zusätzlich zu Ihrer klassischen Anzeigenwerbung können Sie ein Ausstellerporträt buchen und auf Ihren Labvolution-Messestand einladen.
Zum Highlight der Woche...12 MP IDS-Kameras für Labor & Medizin
Perfektes Ergebnis selbst bei schwachen Lichtverhältnissen: IDS integriert den hochauflösenden 12 MP Sensor IMX226 von SONY in die nur 29 x 29 x 29 mm großen uEye CP-Kameras. Die neuen Modelle mit GigE- bzw. USB3-Schnittstelle bieten den bewährten Vision-Standard und sind ab Mai 2019 verfügbar.
Zum Highlight der Woche...Webinar zum Thema Härteprüfung
In einem Webinar informiert Buehler, Hersteller von Spezialgeräten für die Materialprüfung, über Anwendungen der Härteprüfung im Praxisalltag. Die Teilnahme am Webinar ist kostenfrei.
mehr...Mit aktiver Fokus-Stabilisierung
Mit neuen Raman-Imaging-Optionen bietet Witec seine aktuelle Software Suite Five an. Neben verbesserten und neuen Funktionen zur Aufnahme und Auswertung der Daten beinhaltet Suite Five jetzt eine Steuerung für die aktive Fokus-Stabilisierung, die...
mehr...Segmentierung korrelativer Mikroskopiedaten
Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.
mehr...