„Die VCT-Andockstation stellt eine erhebliche Arbeitserleichterung dar. Wir bieten damit eine optimale Lösung für die Oberflächenbearbeitung umweltempfindlicher und kryogener Proben, denn mit dem Leica EM VCT100 können die Querschnitte vom Ionenstrahlätzsystem zum Beschichten und weiter zum Rasterelektronenmikroskop unter den jeweils notwendigen Schutzgas-/Vakuumbedingungen transferiert werden. So bleibt die Probe unversehrt und Forscher können brillante Bildergebnisse erzielen“, sagt Robert Ranner, Produktmanager Leica Microsystems.

Im Bereich der EM-Probenpräparation konzentriert sich Leica Microsystems auf die Entwicklung von Workflow-Lösungen. Mit ihren Transfermöglichkeiten für die unterschiedlichsten Schritte der Probenpräparation trägt die VCT-Andockstation des Leica EM TIC 3X wesentlich zur Vereinfachung des Arbeitsablaufs bei.

„Wir möchten Forscher bei ihrer Arbeit entlasten. Zum Beispiel muss Lithium während des Präparationszyklus in einer Schutzumgebung gehalten werden“, erklärt Ranner. „Nun steht ein Gesamtsystem zur Verfügung, mit dem nahtlos der Phasenerhalt der Probe während der Präparation und zwischen den Präparationsschritten gewährleistet ist: Die mechanische Bearbeitung der Probe erfolgt entweder mit dem Zielpräparationsgerät Leica EM TXP oder mit der Leica Kryo-Säge. Anschließend werden mit dem Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X Querschnitte der Probe hergestellt, die im Hochvakuum-Coater Leica EM ACE600 beschichtet werden. Schließlich werden die Präparate im Rasterelektronenmikroskop analysiert. Das Transportsystem Leica EM VCT100 dient als Shuttle, das den sicheren Transfer der Proben zwischen den jeweiligen Prozessschritten in einer Vakuum- oder Kryo-Umgebung gewährleistet.“

Das Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X mit VCT-Andockstation ermöglicht die Herstellung hochwertiger Querschnitte von hartem, weichem, porösem, wärmeempfindlichem, sprödem und heterogenem Material zur Mikrostrukturanalyse mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM).

Dieses Ionenstrahlätzsystem ermöglicht die Herstellung hochwertiger Querschnitte von hartem, weichem, porösem, wärmeempfindlichem, sprödem und heterogenem Material zur Mikrostrukturanalyse mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Rasterkraftmikroskop (AFM). Zur Untersuchung der präparierten Probenoberfläche eignen sich unterschiedliche Untersuchungsverfahren wie zum Beispiel die energiedispersive Spektrometrie (EDS), die wellenlängedispersive Spektrometrie (WDS), die Augerelektronenspektroskopie, oder die Elektronen-Rückstreubeugung (EBSD).

Weitere Informationen zum Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X: http://www.leica-microsystems.com/de/produkte/em-probenvorbereitung/industrielle-werkstoffe/festkoerperpraeparation/details/product/leica-em-tic-3x/

Weitere Informationen zum Vakuum-Kryo-Transfersystem Leica EM VCT100: http://www.leica-microsystems.com/de/produkte/em-probenvorbereitung/industrielle-werkstoffe/probentransfer/details/product/leica-em-vct100/