Konfokalmikroskop für die MaterialprüfungDiverse Kontrastmethoden + 3D-Topographien in einem Gerät
Das neue konfokale Laser Scanning Mikroskop Zeiss LSM 800 ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahmen von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument macht das LSM 800 ideal geeignet für Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System bietet zudem die exakte Erfassung von 3-D-Topographie und Untersuchungen von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt.
 | | | | | | | | |
Die Kombination des Zeiss LSM 800 mit dem Zeiss Axio Imager, einer inversen Mikroskopieplattform für die Materialforschung, ermöglicht eine Vielzahl an Hardwarekonfigurationen, beispielsweise bei Objektiven, Mikroskop-Tischen und Beleuchtungstechniken. Durch die Verfügbarkeit lichtmikroskopischer Verfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und den Zeiss exklusiven zirkulären differentiellen Interferenzkontrast (C-DIC) in einem Stativ kommen Benutzer schneller zu Ergebnissen.
Das Zeiss LSM 800 beinhaltet die neueste Version der ZEN-Bildaufnahme-Software, die mit einer offenen Schnittstelle für Anwendungsentwicklung (OAD) den Datenaustausch mit etablierter Analyse- und Forschungssoftware ermöglicht. Der Bildaufnahme-Assistent erleichtert die Bedienung und sorgt für standardisierte Aufnahmeparameter. Weitere erwähnenswerte Features sind optimierte Scan-Geschwindigkeiten, Topographie-Analyse und Schichtdickenmessung.
| | | | | | | | | |
Weitere Beiträge zum Thema
ImagingSegmentierung korrelativer Mikroskopiedaten
Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.
…mehr
MaterialanalyseMikroskop bietet integrierte chemische Analyse
Mit dem neuen DM6 M LIBS Mikroskop für die Materialanalyse und -prüfung von Leica Microsystems lassen sich zwei wesentliche Kennzeichen von Materialien in nur einem Arbeitsgang analysieren: Mikrostruktur und chemische Zusammensetzung.
…mehr
MaterialwissenschaftenBeobachtung von Phasenübergängen an Oberflächen
In vielen Materialien gibt es Übergänge zwischen verschiedenen Kristallstrukturen. Diese verschiedenen „Phasen“ haben häufig sehr unterschiedliche mechanische, elektronische und magnetische Eigenschaften. Forscher an der Uni Göttingen haben jetzt eine neue Methode vorgestellt, mit der die ultraschnelle Umwandlung zwischen solchen Phasen an Oberflächen beobachtet werden kann.
…mehr
HärteprüfungDrei Messpunkte auf einen Streich
Das neuentwickelte Triple Shore A von Bareiss bietet die Möglichkeit, gleichzeitig drei Härteprüfungen nach Shore A normgerecht an einer Probe durchzuführen. Dies spart Zeit und beugt Anwendungsfehlern vor.
…mehr
Kundenspezifische KlimakammernMit Dokumentations-Software
Die Klimakammern der Serie Kambic gibt es in vielen unterschiedlichen Ausführungen, von der kleinformatigen Tischkammer über Standardkammern, Pflanzenwachstumskammern bis hin zu kundenspezifischen Sonderlösungen.
…mehr
