Konfokalmikroskop für die Materialprüfung

Diverse Kontrastmethoden + 3D-Topographien in einem Gerät

Das neue konfokale Laser Scanning Mikroskop Zeiss LSM 800 ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahmen von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument macht das LSM 800 ideal geeignet für Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System bietet zudem die exakte Erfassung von 3-D-Topographie und Untersuchungen von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt.

Das konfokales Laser Scanning Mikroskop LSM 800 ist insbesondere für die Prüfung von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern geeignet.

Die Kombination des Zeiss LSM 800 mit dem Zeiss Axio Imager, einer inversen Mikroskopieplattform für die Materialforschung, ermöglicht eine Vielzahl an Hardwarekonfigurationen, beispielsweise bei Objektiven, Mikroskop-Tischen und Beleuchtungstechniken. Durch die Verfügbarkeit lichtmikroskopischer Verfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und den Zeiss exklusiven zirkulären differentiellen Interferenzkontrast (C-DIC) in einem Stativ kommen Benutzer schneller zu Ergebnissen.

Das Zeiss LSM 800 beinhaltet die neueste Version der ZEN-Bildaufnahme-Software, die mit einer offenen Schnittstelle für Anwendungsentwicklung (OAD) den Datenaustausch mit etablierter Analyse- und Forschungssoftware ermöglicht. Der Bildaufnahme-Assistent erleichtert die Bedienung und sorgt für standardisierte Aufnahmeparameter. Weitere erwähnenswerte Features sind optimierte Scan-Geschwindigkeiten, Topographie-Analyse und Schichtdickenmessung.

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