Strahlenteiler

Filtersysteme für TIRF-Mikroskopie

Zur Realisierung des TIRF-Modus sind am Mikroskop einige technische Voraussetzungen erforderlich. Neben spezifischen Lasern und hochaperturigen Objektiven ist hierbei auf die Filterspezifikation zu achten.

Filterwürfel

Innerhalb der Weitfeldmikroskopie hat sich die TIRF-Mikroskopie (Total Internal Reflection Fluorescence) als routinefähige Methode entwickelt, die es ermöglicht, im evaneszenten Feld eine deutliche Kontrastverstärkung der zu analysierenden Probe zu realisieren. Zur Einkopplung der Laser ist es zwingend, dass die Laser-Strahlenteiler eine hohe Oberflächengüte aufweisen, da ansonsten Verzerrungen des Laserstrahlprofils auftreten.

Technisch lassen sich diese Anforderungen hinsichtlich der Planität auf verschiedene Arten realisieren. Spezielle TIRF-Strahlenteiler können in TIRF-spezifischen Filterwürfeln spannungsfrei gehaltert werden, wodurch die mikroskopische Anwendung deutlich vereinfacht wird. Zur Einkopplung verschiedener Laserwellenlänge gibt es eine Vielzahl von Multiband-Strahlenteilern mit den entsprechend spezifisch geblockten Multiband-Sperrfiltern (Laser-Rejectionband oder Multi-Notch-Filter).

Bei AHF analysentechnik sind komplette Filtersysteme erhältlich, die spezifisch an die Erfordernisse des Messplatzes und die Fragestellungen des Anwenders angepasst sind.

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