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Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4000Hochpräzise 3-D-Oberflächenmessung

Mit dem neuen konfokalen Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4000 von Olympus lassen sich jetzt Flanken bis zu einer Steilheit von 85° messen. Ein größerer optischer Zoom und eine übersichtliche Navigation sind weitere Features.

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Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4000: Hochpräzise 3-D-Oberflächenmessung
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