Analytica 2018 – Halle A3, Stand 319C

Spectrometer zur Partikelcharakterisierung

LS präsentiert in Halle A3 (Stand 319C) sein LS Spektrometer als Instrument zur Partikelcharakterisierung, welches statische (SLS) und dynamische Lichtstreuung (DLS) kombiniert.

Der modulare Aufbau ermöglicht laut Unternehmen eine individuelle Konfiguration, die eine optimierte Lösung für die spezifische Anwendung erlaubt.

Um selbst die anspruchsvollsten Messungen so einfach wie möglich zu gestalten, hat LS Instruments eine intuitive Benutzeroberfläche entwickelt, die eine vollautomatische Messung und Analyse der Ergebnisse ermöglicht. Software-Pakete wie die LSI Zimm Plot-Software erlabuen selbst komplexe Datenverarbeitung in nur wenigen Klicks.

Über die wichtigsten Eigenschaften können sich Besucher in Halle A3 am Stand 319C informieren.

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