Neue Software für Rasterkraftmikroskop
Analyse-Software für industrielle AFM-Anwender
Nach der kürzlich erfolgten Markteinführung des Rasterkraftmikroskops Tosca™ 400 hat Anton Paar die Markteinführung der Tosca™-Analysesoftware bekannt gegeben. Die Software basiert auf der Mountains® Oberflächenanalyse-Technologie des Unternehmens Digital Surf.
Tosca™ Analysesoftware für Tosca™ 400 AFM
Das speziell für industrielle Anwender entwickelte Tosca 400 wird mit der Tosca-Steuersoftware für den Betrieb des AFMs geliefert. Mit der neu hinzugefügten Tosca-Analysesoftware haben Anwender jetzt eine Komplettlösung für komplexe Nano-Oberflächen-Analysen für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen, einschließlich der Charakterisierung von Halbleitereigenschaften und der Untersuchung von Polymerketten. Zu den Hauptfunktionen gehören:
- Echtzeit-3D-Multi-Channel-Imaging mit Overlays
- Charakterisierung von Oberflächentextur mit den neuesten 3D-Parametern aus ISO 25178
- State-of-the-Art-Geometrie- & Morphologie-Analyse im Nanobereich einschließlich Höhe von Körnern und Motiven, Volumen von Oberflächenstrukturen (Erhebungen, Löcher), Stufenhöhen usw.
- Leistungsstarke Automatisierungsfunktionen für anspruchsvolle Anwendungen einschließlich unerlässlicher Funktionen wie Dimensionierung und Statistiken
- Kolokalisierung von Oberflächendaten aus anderen Analysen zur korrelativen Analyse wie z. B. chemische Raman-Kartographien.
Die Tosca-Analysesoftware ist in elf verschiedenen Sprachen erhältlich und verfügt über eine – nach Herstellerangaben – angenehm und einfach zu bedienende Benutzeroberfläche mit Menüband und über kontextabhängige Registerkarten mit intuitiven Symbol-basierten Werkzeugen.
Der interaktive Analyseablauf (Workflow) gewährleistet jederzeit eine vollständige metrologische Rückverfolgbarkeit sowie mühelose Änderungen der Einstellungen.
Oberflächenanalyseberichte lassen sich nach Unternehmensangaben einfach in Excel-, PDF- und Word-kompatiblen RTF-Formaten erstellen. Darüber hinaus sollen Automatisierungstools dabei helfen die Produktion zu beschleunigen (Analyseroutinen können zum Beispiel als Vorlagen gespeichert und in Batchverarbeitung auf andere Daten angewendet werden.)











