Intuitiv bedienbar

Kompakt-REM

Das Jeol JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Es stellt ein einfach zu bedienendes, vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar. Mit seinen erneut verbesserten EDS-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“ der Rasterelektronenmikroskopie, das konfiguriert werden kann, um individuelle Laboranforderungen zu erfüllen. Es ist hochauflösend und verfügt über einen weiten Bereich kontinuierlich einstellbarer Beschleunigungsspannungen sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuum-Modus.

Rasterelektronenmikroskop

Das IT100 ist ein außergewöhnlich intuitives Mikroskop mit hohem Durchsatz, das entwickelt wurde, um Laborarbeitsabläufe zu optimieren. Die Eingabe erfolgt über TouchScreen-Bedienung. Für erfahrene REM-Anwender ist auch ein klassisches Bedienpult verfügbar. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem Jeol JSM-IT100 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte Jeol EDS-System mit SDD-Technik umfasst spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder.

Zur InTouchScope-Baureihe von Jeol gehören das NeoScope Tisch-REM mit wählbarem HV/LV-Modus und das JSM-IT300LV mit erweiterten Analysefunktionen und großer Probenkammer.

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