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Material- und WerkstoffprüfungOberflächenmesstechnik

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Material- und Werkstoffprüfung: Oberflächenmesstechnik

Digital Surf gab die offizielle Veröffentlichung seiner neuen Mountains® 7 Software für Oberflächendarstellung und Messtechnik bekannt. Modernste 3D-Bilddarstellung, kompatibel mit OpenGL und Direct3D, macht die Visualisierung aller Details auf Oberflächen im µm- und nm-Bereich mit nahezu perfekten Lichtverhältnissen möglich.

Neue Lösungen für Rasterelektronenmikroskope sowie Raman- und FT-IR-Spektrometer - kombiniert mit erweiterten bereits existierenden Lösungen für 3D-Mikroskope, Rastersondenmikroskope und Profilometer - bedeuten, dass Mountains 7 laut Pressemitteilung die kompletteste Oberflächenanalyse-Lösung seiner Klasse ist. Außerdem macht die neue smarte Benutzerumgebung die Erstellung von Messberichten noch schneller und eleganter.

Mountains 7 verfügt über eine intelligente Benutzeroberfläche mit neuem Design, die die Erstellung eines Oberflächenmessberichtes noch schneller und einfacher macht. Objekt-orientierte Ribbons - die alle für das gerade untersuchte Objekt relevanten Funktionen enthalten - werden automatisch eingeblendet. Zugriff auf alle Funktionen erfolgt dank der Organisation aller Bilddarstellungs-, Analyse- und Bearbeitungsfunktionen in Top-Down-Gruppen in einer logischen Reihenfolge.

Erweiterte grafische Tooltips helfen sofort beim Verständnis aller Funktionen. Alle Analyse-Schritte können sofort identifizierte werden, da eindeutige Typen-Icons und Vorschaubilder im hierarchischen Analyseablauf verwendet werden. Feineinstellungen für jeden Operator können direkt vorgenommen werden, da jeder Operator einzeln im Analyseablauf dargestellt ist.

Die visuellen und analytischen Studien, die das Herzstück eines Berichts ausmachen, wurden in Mountains 7 modernisiert und vereinfacht, um die Erstellung von Messberichten noch einfacher und schneller zu gestalten. Alle metrologischen Ergebnisse werden in einem einzigen Ergebnis-Manager zusammengefasst, wo Toleranzen angegeben werden können, ein Pass-/Fail-Status automatisch angezeigt werden kann, und Ergebnisse in einem mit Excel kompatiblen Format exportiert werden können.

Schichten in Multi-Layer-Oberflächen - aus mehrkanaligen optischen 3D-Mikroskopen und Rastersondenmikroskopen - können dank der Vorschau-Miniatur-Bilder leicht identifiziert und gewählt werden. Zu den neuen Funktionen gehören die Kartierung lokaler Eigenschaften und das automatische Entfernen von Ausreißern, die man häufig auf Oberflächen findet, die mit optischen 3D-Mikroskopen gemessen wurden. Die Publikation der Daten wird erleichtert, da Mountains 7 kompatibel mit den gängigen Office-Programmen ist. Dokumente können als PDF (keine Fremdsoftware erforderlich) oder als Word-kompatible RTF-Dokumente exportiert werden. Individuelle Bilder und komplette Dokument-Seiten können im Bitmap-Format in Bildschirm-Qualität (96 dpi) für Präsentationen oder in Druckqualität (mit einer Auflösung von 300, 600 oder 1200 dpi) für Poster exportiert werden.

In Mountains 7 ergänzen zwei neue Produkte die Software-Palette. MountainsMap SEM ist ein neues 3D-Bilddarstellungs- und Metrologie-Produkt für REM (Rasterelektronenmikroskope, SEM - Scanning electron microscopes) und beinhaltet Funktionen wie Rekonstruktion von 3D-Oberflächen (X, Y und Z in Längeneinheiten) aus Stereo-Bildpaaren, Anaglyphen und Serien aus 4 Bildern. MountainsMap Hyperspectral ist ein neues Produkt für Raman- und FT-IR-Spektrometer, das die interaktive Handhabung von Spektren und hyperspektralen Würfeln, deren Filtern, die Erstellung von Dichte-Karten (chemische Zusammensetzung) und die Visualisierung von 'abgeflachten' Hyper-Würfeln in 3D ermöglicht. Schlüsselfunktionen aus MountainsMap SEM und MountainsMap Hyperspectral sind auch in den jeweiligen für einige MountainsMap-Produkte erhältlichen neuen Zusatzmodulen SEM und Spectrometry enthalten.

Korrelative Studien der Oberflächenmorphologie und Materialzusammensetzung werden durch das Kolokalisieren von Bild- und Oberflächendaten aus einer oder mehreren Quellen erleichtert. Es ist zum Beispiel möglich, REM-Sekundär- und Rückstreu-Elektronen-Bilder zu kolokalisieren sowie Mikroskop-Bilder und Spektrometer-Dichtekarten mit 3D-Oberflächen-Topografien aus optischen 3D-Mikroskopen, Rastersondenmikroskopen und 3D-Profilometern.

"Das visuelle Darstellen und Korrelieren von Oberflächendaten, die Analyse dieser Daten und das Erstellen von Messberichten sind grundlegende Bereiche, die unseren Instrumentenhersteller-Partnern und Endkunden sehr wichtig sind," erklärt François Blateyron, Digital Surfs operativer Geschäftsführer. "Mountains 7 setzt neue Richtlinien in diesen Gebieten, mit modernsten Oberflächendarstellungen, erweiterten Kolokalisations-Funktionen, dem komplettesten auf dem Markt verfügbaren Angebot an Oberflächenanalyselösungen, und einer neuen intelligenten Benutzerumgebung, die das Erstellen von detaillierten und präzisen Messberichten noch schneller und einfacher macht." Weitere Infos unter http://www.digitalsurf.com.

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