Materialprüfung

Oberflächenanalytik: Topographisches Raman-Imaging

Die preisgekrönte TrueSurface-Mikroskopie von WITec ist jetzt auch als integrierbare Option für die alpha300-Mikroskop-Serie erhältlich. Das neue Abbildungssystem ist auch als Upgrade für bereits installierte alpha300- und alpha500-Systeme verfügbar. Kernstück der Abbildungsmethode ist ein Sensor für optische Profilometrie, der jetzt im Mikroskop-Revolver Platz findet. Das System vermisst die Oberflächentopographie von großen Proben und korreliert diese mit der konfokalen Raman-Mikroskopie. Damit können sehr raue oder stark verkippte Proben exakt, automatisch und mühelos chemisch charakterisiert und konfokal dargestellt werden. Der Vorteil: Die aufwendige Vorbereitung von schwierigen Proben entfällt und die Probe wird im Originalzustand bei gleichzeitig höchster Konfokalität analysiert.

„Unsere Kunden haben nun die Möglichkeit, mit jedem WITec-Gerät sowohl makroskopisch im Millimeterbereich entlang der Oberfläche als auch mikroskopisch im Sub-Mikrometerbereich 3D-Raman-Imaging durchzuführen“, erläutert Dr. Olaf Hollricher, Mitgründer und Geschäftsführer F&E von WITec.

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