analytica-Neuheit

Korrelatives Raman-SEM-Mikroskop

Tescan Orsay Holding und WITec stellen auf der analytica das gemeinsam entwickelte RISE-Mikroskop vor. Die RISE-Mikroskopie ist eine weltweit einzigartige korrelative Mikroskopietechnik, die erstmals konfokales Raman-Imaging mit Scanning-Electron-(RISE-)Mikroskopie in einem Gerät zusammenführt.

Im korrelativen RISE-Mikroskop sind ein Elektronenmikroskop und ein konfokales Raman-Mikroskop vollständig integriert. Mit der neuen RISE-Technik können erstmals mit einem Mikroskop elektronenmikroskopische und chemische Bilder einer Probe erstellt und überlagert werden.

Diese Kombination eröffnet für den Mikroskop-Anwender neue Möglichkeiten zur umfangreichen Probenanalyse: Mit der Elektronenmikroskopie können Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich sichtbar gemacht werden, die konfokale Raman-Mikroskopie ist eine weitverbreitete Spektroskopie-Methode, die in hoher Auflösung Informationen über die molekularen Bestandteile einer Probe liefert. Sie wird zur Erstellung von chemischen 2D- und 3D-Bildern und Tiefenprofilen verwendet, um die Verteilung der Probenbestandteile visuell darzustellen. Mit dem RISE-Mikroskop ist es erstmalig möglich, SEM- und Raman-Bilder von derselben Probenregion aufzunehmen und dadurch ultra-strukturelle mit chemischen Informationen zu verbinden.

Beide Analysetechniken wurden in das RISE-Mikroskop vollständig integriert. Zwischen den Messungen fährt der äußerst exakte Probentisch automatisch an die jeweilige Messposition innerhalb der Vakuumkammer des Mikroskops und repositioniert mit extrem hoher Genauigkeit die Probe. Die Anpassung einzelner Messparameter und Instrumenten-Einstellungen wird mit der integrativen Anwendersoftware vorgenommen. Die Ergebnisse beider Messtechniken können anschließend in Zusammenhang gebracht und das SEM- mit dem Raman-Bild überlagert werden.

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"Die RISE Mikroskopie eröffnet unseren Kunden bisher nicht dagewesene Möglichkeiten zur umfangreichen ultrastrukturellen und molekularen Probenanalyse", berichtet Dr. Olaf Hollricher, Geschäftsführer und leitender R&D Direktor bei WITec. "Das neue RISE-Mikroskop ist ein weiterer Beweis für WITec's enorme Innovationskraft. Es erfüllt alle Ansprüche an eine herausragende, korrelative Mikroskopietechnik und wird die Raman- und SEM-Fachwelt überzeugen."

Zur Vermarktung des RISE Mikroskops haben Tescan und WITec eine weltweite Vertriebskooperation vereinbart, um die Synergien beider Unternehmen bestmöglich zu nutzen. Auch die Kundenbetreuung wird von Tescan und WITec gemeinsam durchgeführt werden. "Wir freuen uns sehr über die Kooperation mit WITec. Unser gemeinsames Ziel ist die Sicherstellung einer hohen Kundenzufriedenheit", erklärt Jaroslav Klíma, Vorstandsvorsitzender und Geschäftsführer bei Tescan. "Das RISE-Mikroskop stellt einen bedeutenden Fortschritt in der Entwicklung integrierter Systeme zur Nanoproben-Analyse dar. Es bereichert entscheidend die Tescan Produktpalette im Bereich der High-End-Geräte und unterstreicht unsere Führungsrolle im Elektronenmikroskop-Markt."

Im RISE-Mikroskop sind alle Funktionen und Möglichkeiten eines eigenständigen SEMs und eines konfokalen Raman-Mikroskops integriert. Beide Techniken haben eine hohe Auflösung die für die Elektronenmikroskopie im sub-Nanometerbereich, für Raman beugungsbegrenzt bei 200 ... 300 nm liegt. Die Probe kann im Raman-Imaging-Modus in einem Bereich von 250 x 250 x 250 µm analysiert werden. Durch die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten ist die RISE-Mikroskopie für zahlreiche Anwendungsgebiete wie Nanotechnologie, Materialwissenschaften oder Life Sciences geeignet.

Das RISE-Mikroskop wurde im Rahmen des UnivSEM Projekts von Tescan und WITec gemeinsam entwickelt. UnivSEM wird im Rahmen des European Union Seventh Framework Programme (FP7/2007-2013) unter der Grant Agreement Nummer 280566 gefördert. An UnivSEM beteiligen sich Firmen, Universitäten und Forschungsinstitute aus Tschechien, Deutschland und der Schweiz. Ziel des Projektes ist die Entwicklung ergänzender Untersuchungsmethoden für die Elektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy; SEM).

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