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EDS und EBSD für die Nanoanalyse vom Marktführer für Silizium Drift Detektoren
EDS und EBSD für die Nanoanalyse vom Marktführer für Silizium Drift Detektoren
Brukers bewährte ESPRIT Software zur EDS Mikroanalyse am Rasterelektronenmikroskop (REM) mit dem QUANTAX wurde um eine einzigartige Quantifizierung für die Analyse im Bereich leichter Elemente und niedriger Linienenergien erweitert. Diese wird durch die hervorragende Energieauflösung der im QUANTAX EDS System enthaltenen XFlash® Silizium Drift Detektoren (SDD) (bis zu 123 eV bei Mn Ka, 54 eV bei F Ka und 46 eV bei C Ka) unterstützt. Somit wartet Bruker mit der perfekten EDS Lösung für die Nanoanalyse am REM auf.
Als Marktführer in der SDDTechnologie bietet Bruker mit dem XFlash® 5030 T nun auch den weltweit ersten Silizium Drift Detektor speziell für die EDS Analyse amTransmissionselektronenmikroskop (S/TEM) an. Durch sein geringes Gewicht, den Verzicht auf flüssigen Stickstoff und seinen großen Raumwinkel ist der 5030 T ideal für die Nanoanalyse an konventionellen und aberrationskorrigierten S/TEMs.
Bei bis zu 200 fps ermöglicht QUANTAX CrystAlign eine außergewöhnlich schnelle kombinierte EDS und EBSD (electron backscatter diffraction) Analyse. Eine einzige Nutzeroberfläche für EDS und EBSD macht die Bedienung für den Anwender besonders komfortabel. Die Expertise im Bereich der Nanoanalyse ist einer der Gründe weshalb sich Bruker AXS Microanalysis über den neuen Firmennamen Bruker Nano freut. Gleichzeitig wird so der Erweiterung der EDS- und Röntgenfluoreszenzanalyse-Produktpalette um die Rasterkraftmikroskopie Ausdruck verliehen.Weitere Informationen finden Sie unter:
www.bruker-nano.com
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