Materialprüfung

Oberflächenanalytik: Topographisches Raman-Imaging

Die preisgekrönte TrueSurface Mikroskopie von WITec ist jetzt auch als integrierbare Option für die alpha300 Mikroskop-Serie erhältlich. Damit ist topographisches Raman-Imaging an großen Proben nun mit allen WITec Mikroskopen möglich.

Das neue Abbildungssystem ist auch als Upgrade für bereits installierte alpha300 und alpha500 Systeme verfügbar. Bestandskunden können sich auf diese Weise auf eine umfangreiche Erweiterung des Funktionsumfangs freuen und von den zahlreichen Vorteilen des Abbildungssystems profitieren.

Kernstück der Abbildungsmethode ist ein Sensor für optische Profilometrie, der jetzt im Mikroskop-Revolver Platz findet. Das System vermisst die Oberflächentopographie von großen Proben und korreliert diese mit der konfokalen Raman-Mikroskopie. Damit können sehr raue oder stark verkippte Proben exakt, automatisch und mühelos chemisch charakterisiert und konfokal dargestellt werden. Der entscheidende Vorteil: Die aufwendige Vorbereitung von schwierigen Proben entfällt und die Probe wird im Originalzustand bei gleichzeitig höchster Konfokalität analysiert.

"Unsere Kunden haben nun die Möglichkeit, mit jedem WITec Gerät makroskopisch im Millimeterbereich entlang der Oberfläche als auch mikroskopisch im Sub-Mikrometerbereich 3D-Raman-Imaging durchzuführen", erläutert Dr. Olaf Hollricher, Mitgründer und Geschäftsführer Forschung & Entwicklung von WITec. "Die erstmalige Integration eines Profilometers in einem Raman-Mikroskop eröffnet den Wissenschaftlern ganz neue Möglichkeiten in der Oberflächenanalytik, welche derzeit nur die modularen WITec Systeme bieten können", analysiert Hollricher weiter.

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