Neue Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
Analyse auch leichter Elemente
PANalytical präsentiert die verbesserten Epsilon 3X Tisch-Röntgenfluoreszenz-Spektrometer. Aufbauend auf der Erfahrung und dem großen Erfolg der ersten Generation wurden die neuen Systeme durch Einsatz der modernsten Entwicklungen von Anregungs- und Detektions-Technologien optimiert. Die Systeme sind für einen zuverlässigen und einfachen Betrieb ausgelegt und überzeugen mit hervorragender analytischer Leistungsfähigkeit über das gesamte Periodensystem.
Das Epsilon 3X ist mit einer 50-kV-Anregung und dem neusten, hochauflösenden Si-Drift-Detektor ausgestattet, der die Analyse von Natrium bis zu Americium erlaubt. Dagegen verfügt das Epsilon 3XLE über den besonders leistungsfähigen SDDUltra Si-Drift-Detektor, welcher die Analyse sehr leichter Elemente wie Kohlenstoff, Stickstoff und Sauerstoff möglich macht. Wie bei der RFA-Analyse üblich, können zu analysierende Elemente im Bereich von ppm bis 100 % bestimmt werden - auch ohne oder nur mit geringfügiger Probenvorbereitung.
Fortschrittliche Spektren-Verarbeitung und neueste Algorithmen produzieren korrekte, präzise und rückverfolgbare Analysenergebnisse. Eine Reihe von Software-Optionen ist verfügbar: Standardlose Analytik, Fingerprint, IQ/OQ und die Multilayer-Analyse. Nicht zuletzt können Kunden dank PANalyticals weltweitem Service-Netzwerk von Erfahrung und Expertise profitieren.
Simon Milner (Produkt Marketing Manager Röntenspektroskopie) kommentiert: "Intelligente Kombination der neusten Anregungs- und Detektions-Technologien im neuen Epsilon 3X Benchtop-Spektrometer bietet unübertroffene Leistungsfähigkeit bei leichten Elementen. Diese entspricht und übertrifft manchmal sogar die größerer Systeme. Die preiswerten und flexiblen analytischen Systeme können in einem weiten Applikationsbereich, wie z.B. in der Zementproduktion, im Bergbau und in der Kunststoffproduktion eingesetzt werden."
Weitere Informationen finden Sie unter www.panalytical.com/epsilon3xspectrometers.
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