Raman-SEM-Imaging
Korrelatives Raman-SEM-Imaging
RISE-Mikroskopie ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem Zeiss Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). RISE steht für Raman Imaging und Scanning Electron Microscopy.
Die nahtlose Kombination dieser zwei Techniken in einem Gerät bietet einen entscheidenden Vorteil: Die Messungen sind schneller und einfacher als bei der Verwendung zweier Geräte, weil die für die Raman-Messungen nötigen Komponenten (Objektive, Objekttisch) in die Vakuumkammer des REM integriert werden. Das Raman-Mikroskop wird über einen Standard-Zugang des REMs angeschlossen.
Die Probe wird während der Messungen von einer zur anderen Messposition verschoben und verbleibt für das gesamte Experiment in der Vakuumkammer. Das optische Raman-Mikroskop von Witec verfügt über die Möglichkeit zur Lichtmikroskopie, um sich schnell einen Überblick über die Probe zu verschaffen. Das RISE-Bild entsteht durch die Überlagerung der REM- und Raman-Bilder.
Das im Bild gezeigte System besteht aus dem Zeiss Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalen Raman-Mikroskop mit Spektrometer. Witec und Zeiss haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Instrument als OEM-Produkt über Zeiss anbieten zu können.
„Mit unserer Raman-Technologie kann man schnell die Verteilung der Moleküle innerhalb einer Probe visualisieren. Kombiniert man dies mit der hohen Strukturauflösung des REM, bekommt man ein umfangreicheres Bild einer Probe. Diese Kombination ist ein leistungsstarkes und gleichzeitig ein intuitives Instrument“, so Dr. Olaf Hollricher, Mitgründer und F&E-Direktor von Witec. jw
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