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Methodenflexibilität im RoutinelaborAtomabsorptionsspektrometer

Das Atomabsorptionsspektrometer NovAA® 800 von Analytik Jena. (Bild: Analytik Jena)

Mit dem NovAA® 800 bietet Analytik Jena ein Atomabsorptionsspektrometer (AAS), welches sich besonders für produktionsnahe Labore, z. B. in der Lebensmittel-, Umwelt- oder chemischen Industrie, eignet, wo routinemäßig moderate Probenmengen analysiert werden müssen.

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Ellipsometer SmartSECharakterisierung von Schichten

Horiba Scientific bietet unterschiedlichste Produkte für die Schichtmesstechnik an, darunter Ellipsometer, Reflektometer und Interferometer. Als Nachfolger des spektroskopischen Ellipsometers MM-16 wurde nun das neue SmartSE eingeführt, welches, basierend auf derselben Messtechnik zur Charakterisierung von Schichten (Dicke, n, k), zusätzliche Funktionen wie die Visualisierung der Probenoberfläche und der Messposition liefert.

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Ellipsometer SmartSE: Charakterisierung von Schichten

Das SmartSE zeichnet sich durch seinen einfachen und damit kostengünstigen Aufbau aus, ohne dabei auf gewohnte Funktionen zu verzichten. Neben der Verwendung der ellipsometrischen Software-Plattform DeltaPsi2 lassen sich mit diesem System auch Fragen zu speziellen, nicht klassischen Proben (anisotrope Schichten und Oberflächen, polarisierende optische Bauelemente) beantworten.

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Integrale spektroskopische Ellipsometer UVISEL2

Spektroskopisches EllipsometerMessgenauigkeit gepaart mit Automatisierung

Neben dem erfolgreichen UVISEL bietet HORIBA Scientific nun auch das integrale spektroskopische Ellipsometer UVISEL2 an. Es verfügt über hohe Empfindlichkeit und Messgenauigkeit zur Messung dünnster Schichten auch auf transparenten Substraten wie Glasträgern oder Kunststoff-Folien.

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Ellipsometer UVISEL-2: Mit Visualisierung der Messposition

Ellipsometer UVISEL-2Mit Visualisierung der Messposition

Das neue spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific verbindet höchste Messgenauigkeit mit vollständiger Automatisierung und einzigartiger Das neu entwickelte spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific zeichnet sich durch hohe Empfindlichkeit und Messgenauigkeit aus und dient zur Messung dünnster Schichten auch auf transparenten Substraten wie Glasträgern oder Kunststoff-Folien.

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