Ellipsometer SmartSE

Charakterisierung von Schichten

Horiba Scientific bietet unterschiedlichste Produkte für die Schichtmesstechnik an, darunter Ellipsometer, Reflektometer und Interferometer. Als Nachfolger des spektroskopischen Ellipsometers MM-16 wurde nun das neue SmartSE eingeführt, welches, basierend auf derselben Messtechnik zur Charakterisierung von Schichten (Dicke, n, k), zusätzliche Funktionen wie die Visualisierung der Probenoberfläche und der Messposition liefert.

Das SmartSE zeichnet sich durch seinen einfachen und damit kostengünstigen Aufbau aus, ohne dabei auf gewohnte Funktionen zu verzichten. Neben der Verwendung der ellipsometrischen Software-Plattform DeltaPsi2 lassen sich mit diesem System auch Fragen zu speziellen, nicht klassischen Proben (anisotrope Schichten und Oberflächen, polarisierende optische Bauelemente) beantworten.

Anzeige
Anzeige

Das könnte Sie auch interessieren

Anzeige
Anzeige

Effizienz und Leistung

Die neue Pioneer mit vielen Funktionen zum intelligenten Betrieb in Ihrem Labor. Mit antistatischem Stab zur Erdung. Weitere Informationen über die Waagen Pioneer PX

 

mehr...
Anzeige
Anzeige

Highlight der Woche

Quadrupol-Massenspektrometer PrismaPro®
Mit dem PrismaPro bietet Pfeiffer Vacuum ein Quadrupol-Massenspektrometer für die qualitative und quantitative Gasanalyse sowie zur Lecksuche an.

Zum Highlight der Woche...

Newsletter bestellen

Immer auf dem Laufenden mit dem LABO Newsletter

Aktuelle Unternehmensnachrichten, Produktnews und Innovationen kostenfrei in Ihrer Mailbox.

AGB und Datenschutz gelesen und bestätigt.
Zur Startseite