
Materialanalyse dünnster Beschichtungen
Nicht nur Schichtdickenmessgerät
Oxford Instruments führt ein neues Messgerät für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse ein, das Maxxi 6. Dieses neue Modell im Mid-Range- und High-End-Bereich misst dünnste Beschichtungen im Nanometerbereich sowie die Elementzusammensetzung im Spurenbereich.



























