FE-Rasterelektronenmikroskope
Auflösung im Sub-nm-Bereich
Die GeminiSEM-Familie von Zeiss besitzt ein neues optisches Design. So liefert das Nanotwin-Objektiv Bilder mit hohem Kontrast und einer Auflösung im Sub-Nanometer-Bereich. Der NanoVP-Modus ermöglicht die Verwendung von In-Lens-Detektion bei einem Kammerdruck von bis zu 150 Pa. Folglich können Nutzer selbst sich aufladende Proben mit hoher Bildqualität abbilden.
Gleichzeitig verbessert NanoVP die laterale Auflösung von EDS-Daten. Das Mikroskop liefert folglich eine höhere räumliche Auflösung der chemischen Probenzusammensetzung. Der Anwender gewinnt dadurch mehr Informationen von der Probe.
„Eine exzellente Abbildungsleistung bis hinunter zu 100 V, sogar ohne die Probe auf Potenzial setzen zu müssen“, urteilt Laurent Maniguet von Grenoble Institute of Technology. Er und sein Team gehörten zu den Beta-Testern des Systems.
Die Sigma-Familie vereint Feldemissions-REM-Technik mit Benutzererlebnis. Ein strukturierter 4-Stufen Workflow gewährleistet, dass der Anwender weniger Zeit bis zur Bildgewinnung benötigt.
Eine große Auswahl an Detektoren ermöglicht dem Benutzer, die Sigma-Geräte genau an seine Anwendungen anzupassen: Möglich sind Abbildungen von Partikeln, Oberflächen, Nanostrukturen, dünnen Folien und Beschichtungen.
Mit der besten am Markt verfügbaren Geometrie für EDS-Analysen in dieser Klasse ist Sigma besonders geeignet für die schnelle analytische Charakterisierung verschiedenster Proben.
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